ENG
產(chǎn)品系列
FA分析能力
無損分析
Non Destructive Analysis
IR顯微鏡
外觀檢驗
IR顯微鏡富艾捷BX53M
TDR
電路檢驗
時域反射儀是德N1000A
I-Vcurve
IR顯微鏡
半導(dǎo)體參數(shù)儀Tektronix 4200A-SCS
離子拋光 Ionpolishing
IR顯微鏡
離子研磨儀HITACHI ArBlade5000
X-ray
內(nèi)部打線檢查
X-RAYYXLON CHEETAHEVO
有損分析
Destructive Analysis
Projection Moire
翹曲分析
熱變形分析儀Insidix TDMCOMPACT3
De-cap
產(chǎn)品內(nèi)部及彈坑
激光開蓋機(jī) 富艾捷SmartEtchⅡ
SEM+EDX
芯片表面檢查及元素分析
掃描式電子顯微鏡 （SEM+EDX）ZEISS
Cross-Section
產(chǎn)品截面分析
切片研磨機(jī)UniPOL201
SAM
分層分析
超音波掃描顯微鏡C-SAMHITACHI FS300Ⅲ
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